通过铀对钠中72种无机元素的无损同时分析
质子诱导x射线发射(PIXE)是一种用于测定激光辐照度的方法元素样品的组成。这种方法是基于目标元素在质子照射后发射的特征x射线。x射线光谱是由高能质子激发目标原子的内壳层电子而引发的，在内壳层留下空位，当所产生的空位被填补时，x射线就产生了。由于x射线是其来源元素的特征，不同元素的特征x射线很少有重叠，因此同时检测复杂的多元素样品是可能的。
PIXE有以下优点:
- 高灵敏度(薄膜检测限~1 ppm，厚样品~10 ppm)
- 大气压下的测量可能(通过允许光束通过一个很薄的窗口从光束线流出，大的样品可以在空气中分析)。
- 多元素能力(在单一光谱中对从钠到铀的任何元素进行主元素分析)
- 非破坏性(最小的光束对试件的影响)
- 表面敏感法(典型分析深度为1µm量级)
