晶体材料和单元胞尺寸的相位识别
XRD是一种对晶体材料进行无损表征的技术。XRD可以用来识别和量化大多数晶相。用单色x射线照射样品,使辐照后的晶体相产生典型的衍射图案。根据材料性质和x射线入射角的不同,XRD可以探测所有元素,探测限为~1%,深度分辨率在~20埃~30微米之间。
- 相组成的决心
- 聚合物结晶度百分比的测定
- 特定晶相的定量,如无机聚合物填料
- 识别污染或腐蚀产物
XRD是一种对晶体材料进行无损表征的技术。XRD可以用来识别和量化大多数晶相。用单色x射线照射样品,使辐照后的晶体相产生典型的衍射图案。根据材料性质和x射线入射角的不同,XRD可以探测所有元素,探测限为~1%,深度分辨率在~20埃~30微米之间。
