用化学映射导航表面组成！
随着需求而构成表面敏感质谱，飞行时间 - 二级离子质谱（TOF-SIMS）是可信赖的选择！主要离子轰击样品的表面，导致仲离子的产生。这些离子完全来自样品表面的前几种单层。这些特征质量片段的质谱鉴定允许组分识别（最多约400DA）高度精度高。用离子束穿过表面的轰击，在各种采样位置提供化学图像。化学成分现在可以映射穿过样品的表面或横截面，使其成为主要，而不是二次，表面分析选择！
- 鉴别表面涂层聚合物添加剂
- 问题解决粘附缺陷
- 正极和负离子模式中的痕量组分检测
- 组成表面差异的屏幕
- 横截面分析
